當(dāng)前位置:艾博納微納米科技(江蘇)有限責(zé)任公司>>測試服務(wù)>>光譜分析儀>> 島津Rayny EDX-720X射線熒光光譜分析儀
產(chǎn)品名稱
X射線熒光光譜分析儀(XRF)
設(shè)備型號:
島津Rayny EDX-720
測試功能:
1.元素組成:檢測和定量樣品中存在的元素,通常從鈉(Na)到鈾(U)的整個(gè)范圍。
2.濃度分析:提供樣品中各元素的濃度或含量信息。
3.多層膜厚度測量:分析涂層和薄膜的厚度和組成。
4.雜質(zhì)和摻雜物檢測:檢測樣品中的雜質(zhì)和微量元素。
5.質(zhì)量控制和合規(guī)性檢測:檢測材料的質(zhì)量和合規(guī)性,例如檢測重金屬含量。
樣品要求:
1.固體、粉末和液體樣品均可測量。
2.固體樣品應(yīng)保證平整,以確保均勻的X射線照射和探測。
3.固體、粉末樣品必須干燥。
4.確保樣品無塵埃、油脂或其他污染物,這些可能會影響分析結(jié)果。
5.樣品應(yīng)盡可能均勻,以避免由于成分不均導(dǎo)致的誤差。